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工业制造行业解决方案(5)
作者:admin 内容来源:本站原创 发布时间:2016年04月27日 浏览量:
工业制造行业全面解决方案

光学材料透射和反射光谱的测定(UV)

UV-NIR分光光度计可精确测量从近红外区至紫外区的宽波长范围的透射光谱和反射光谱。

在该实例中,UV-3700 UV-VIS-NIR分光光度计用于测量CD基片的透射光谱和硅片反射光谱。

工业制造行业解决方案
CD基片的透射光谱

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硅片的反射光谱

UV-3700 UV-VIS-NIR分光光度计

工业制造行业解决方案

UV-3700可实现大样品的无损测量,并可在宽波长范围(从紫外到红外)内测量光谱光度。

在光源处、检测器及积分球中使用基本不吸收深紫外光(DUV)的材料并用氮气净化包括单色器和样品室在内的所有的光路,可以对165至3300nm宽波长范围的光谱进行测量(使用选配的DUV型)。



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